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JEM-ARM300F2 GRAND ARM™2

JEM-ARM300F2 GRAND ARM™2

El nuevo JEOL JEM-ARM300F2 Grand ARM™2 ha sido optimizado para la obtención de imágenes de ultra alta resolución, hasta el nivel picométrico, combinado con EDX de alta sensibilidad y análisis EELS de alta resolución sobre un amplio rango de voltajes de aceleración.

El GRAND ARM2 permite la caracterización de una amplia gama de materiales a nivel atómico.

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