COASIN Medir para conocer

Representadas

Sistemas de Micro análisis de RX por Dispersión de Energía ( EDS) y por Dispersión en Longitudes de Onda. Sistemas para análisis de orientación de cristales ORKID.

Micro Análisis RX

Microanálisis cualitativo y cuantitativo de muestras para microscopios electrónicos.
Integración con microscopios SEM y TEM.
Permite identificar y cuantificar elementos desde el Be al U en microáreas, en pocos segundos.
Versiones con mapeo y barridos de línea.
Amplia gama de detectores y sistemas de enfriamiento.

Microanálisis de Rayos X

Microanálisis en muestras para microscopios electrónicos.
• La más alta resolución de picos, libre de superposición.
• Detección trazas de elementos.
• Análisis de todo el espectro de rayos X.
T• ecnología de óptica policapilar y cristales rectos.

Difractómetro

Difracción de electrones retrodispersados para microscopios electrónicos.
Análisis de fases cristalinas a escala microscópica.
Identificación automática de fases.
Orientación de grano.
Figura polar.
Totalmente integrado al sistema de microanálisis.

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