COASIN Medir para conocer

Análisis por Microscopía »

Microscopios Electrónicos de Transmisión (TEM)

JEM-ARM200F NEOARM

Microscopio Electrónico de Transmisión de Electrones con Barrido (STEM) NEOARM, Analítico con la mejor resolución disponible en todo el mercado (0,07 nm).

Óptica de altísima calidad.
Corrector de aberración esférica incorporado.
Insuperable estabilidad eléctrica y mecánica.
Resolución STEM-HAADF de 0,07 nm (200 Kv)
Imágen simultánea de detectores DF, BF y BE.
Blindajes electromagnético y térmico de diseño innovador.
Corrector de aberración esférica para el sistema de imágen.

Especificaciones Generales:

  • Cañón FEG Schottky.
  • Tensión de acelración de 30kV a 200kV.
  • Platina eucéntrica motorizada piezoeléctricamente.
Jeol

COASIN S.A.
Virrey del Pino 4071 - Ciudad Autónoma de Buenos Aires - Argentina
Tel. +54 11 4552-3185 - Fax: + 54 11 4555-3321