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Microscopios Electrónicos de Transmisión (TEM)

JEM-ARM200F

Microscopio Electrónico de Transmisión de Electrones con Barrido (STEM) Analítico con la mejor resolución disponible en todo el mercado (0,08 nm).

Óptica de altísima calida.
Corrector de aberración esférica incorporado.
Insuperable estabilidad eléctrica y mecánica.
Resolución STEM-HAADF de 0.08 nm.
Imágen simultánea de detectores DF, BF y BE.
Blindajes electromagnético y térmico de diseño innovador.
Corrector de aberración esférica para el sistema de imágen.
Especificaciones

Cañón FEG Schottky.
Tensión de acelración de 80kV a 200kV.
Platina eucéntrica motorizada piezoeléctricamente.

Jeol

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