COASIN Medir para conocer

Análisis por Microscopía »

Microscopios Electrónicos de Barrido (SEM)

JSM-7200F

Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo (FE-SEM) JSM-7200F altamente versátil y fácil de usar que ofrece un nuevo nivel de rendimiento superior al usuario Este SEM de alta resolución es ideal para imágenes y análisis de nanoestructuras, y para determinar la composición química de la muestra a través de espectroscopía de rayos X. Combinando grandes corrientes de haz con un tamaño de sonda pequeño a cualquier voltaje de aceleración, el JSM-7200F aumenta drásticamente la resolución analítica a la escala sub 100nm. Para el análisis de muestras no conductoras, el JSM-7200F / LV está disponible con presión variable.

Especificaciones Generales:

  • Imágen de ultra alta resolución: 1.0 nm
  • Excelentes prestaciones a baja tensión: 1,6 nm a 1kV
  • Múltiples detectores simultáneamente: SEI, BEI, EDS, WDS, EBSD, CL, etc.
  • Cañón Termal-Schottky integrado en la lente condensadora.
  • Máxima corriente de haz: 300 nA
  • Lente de control de ángulo de apertura que mantiene un spot size pequeño aún a altas corrientes.
  • Filtro R para imagen de electrones de un rango de energía seleccionado.
  • Desaceleración del haz antes de la muestra.
Jeol

COASIN S.A.
Virrey del Pino 4071 - Ciudad Autónoma de Buenos Aires - Argentina
Tel. +54 11 4552-3185 - Fax: + 54 11 4555-3321