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Microscopios Electrónicos de Barrido (SEM)

JSM-7100FA

La mejor calidad de imágen y las mas altas capacidades analíticas, en un SEM de última generación.

Todo integrado en el modelo estándar

  • Imágen de ultra alta resolución: 1.2 nm
  • Excelentes prestaciones a baja tensión: 2.0 nm a 1kV
  • Múltiples detectores simultáneamente: SEI, BEI, EDS, WDS, EBSD, CL, etc.
  • Cañón Termal-Schottky integrado en la lente condensadora.
  • Máxima corriente de haz: 200 nA
  • Lente de control de ángulo de apertura que mantiene un spot size pequeño aún a altas corrientes.
  • Filtro R para imagen de electrones de un rango de energía seleccionado.
  • Desaceleración del haz antes de la muestra.
Jeol

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