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Microscopios Electrónicos de Barrido (SEM)

JSM-IT100

Microscopio electrónico de barrido multifuncional de uso general con una nueva interfaz de usuario intuitiva, haciendo uso de una pantalla de control y panel táctil.

El análisis elemental por EDS se ha integrado plenamente. El modo de bajo vacío está incluido en las configuraciones LV y LA, este módulo ofrece una fácil observación de materiales no conductores sin pre-tratamiento. En su versión LA incluye la capacidad de análisis EDX en un interfaz totalmente integrado en el software de control del microscopio.

Incluye toda la funcionalidad y prestaciones de un microscopio electrónico de barrido tipo termoiónico con un diseño compacto y un manejo sencillo.

Capacidad de selección continúa del voltaje de aceleración en el rango 0.5 – 20 kV (30kV opcional) y de la presión de trabajo en bajo vacío entre 1 y 100 Pa. Alcanza una resolución máxima de 4nm a 20 kV y máximos aumentos de x300.000.

  • Facilidad de manejo con interfaz táctil.
  • Platina eucéntrica.
  • Rango de aumentos x5-x300.000.
  • Adquisición de datos rápida y automática.
  • Dimensiones reducidas.
  • Barras de herramientas personalizadas para funciones repetitivas.
  • Imágenes de electrones secundarios y retrodispersados.
  • Voltaje de aceleración seleccionable entre 0.5 y 20 kV (30kV opcional).
  • Sistema de vacío totalmente automático con presión seleccionable.
  • Imagen en directo a pantalla completa.
Jeol

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