COASIN Medir para conocer

Análisis por Microscopía »

Microscopios Electrónicos de Barrido (SEM)

JSM-iT500

Microscopio electrónico de barrido (SEM) JSM-IT500 para trabajos en modos de alto y bajo vacío, en la versión que incluye bajo vacío permite trabajar en este modo a presiones de hasta 650 Pa. Posee un nuevo diseño de los detectores de electrones secundarios y de electrones retrodispersados.

El JSM-IT500 es un microscopio electrónico de barrido de altas prestaciones con una resolución de 3.0 nm a 30 kV y 15nm a 1 kV.

El modo de bajo vacío, al que se accede con un clic, permite la observación de muestras que no podrían observarse en las condiciones de vacío habituales en un microscopio por su alto contenido en agua o debido a su superficie no conductora, permite el control del microscopio por pantalla táctil mediante su nuevo software de fácil manejo.

Entre las funciones automáticas estándar se incluyen autofoco/ autoastigmador, cañón (saturación, bias y alineamiento) y ajuste automático de contraste y brillo.

Especificaciones Generales:

  • Nueva platina más rápida y precisa.
  • Motorización en los 5 ejes para muestras de gran tamaño.
  • Más puertos para accesorios. Doble EDS a 35º opuestos 180º.
  • Platina macánicamente eucéntrica a cualquier distancia de trabajo.
  • Lentes tipo Zoom: foco y área de interés siempre óptimos al variar cualquier parámetro.
  • Interfaz de usuario mediante pantalla táctil Multi-Touch.
  • Navegación de la muestra con imágen color.
JSM-IT200

Microscopio electrónico de barrido (SEM) JSM-IT200 multifuncional de uso general con una nueva interfaz de usuario intuitiva, haciendo uso de una pantalla de control y panel táctil.

El JSM-IT200 realiza el análisis elemental por EDS totalmente integrado. El modo de bajo vacío está incluido en las configuraciones LV y LA, este módulo ofrece una fácil observación de materiales no conductores sin pre-tratamiento. En su versión LA incluye la capacidad de análisis EDX en un interfaz totalmente integrado en el software de control del microscopio.

Incluye toda la funcionalidad y prestaciones de un microscopio electrónico de barrido tipo termoiónico con un diseño compacto y un manejo sencillo.

Capacidad de selección continúa del voltaje de aceleración en el rango 0.5 – 20 kV (30kV opcional) y de la presión de trabajo en bajo vacío entre 1 y 100 Pa. Alcanza una resolución máxima de 4nm a 20 kV y máximos aumentos de x300.000.

Especificaciones Generales:

  • Facilidad de manejo con interfaz táctil.
  • Platina eucéntrica.
  • Rango de aumentos x5-x300.000.
  • Adquisición de datos rápida y automática.
  • Dimensiones reducidas.
  • Barras de herramientas personalizadas para funciones repetitivas.
  • Imágenes de electrones secundarios y retrodispersados.
  • Voltaje de aceleración seleccionable entre 0.5 y 20 kV (30kV opcional).
  • Sistema de vacío totalmente automático con presión seleccionable.
  • Imagen en directo a pantalla completa.
JCM-6000PLUS NeoScope

Microscopio electrónico de barrido de sobremesa NEOSCOPE con modos de alto y bajo vacío y 3 voltajes de aceleración accesibles.

El SEM de sobremesa es muy fácil de manejar para usuarios poco o nada familiarizados con la microscopia electrónica que permite obtener imágenes con gran detalle y alta profundidad de campo de forma rápida.

NeoScope combina la potencia de la óptica electrónica con la facilidad de uso del microscopio óptico digital y en el mismo espacio que este. Además complementa a los microscopios ópticos permitiendo a sus usuarios investigar más a fondo las mismas muestras con mayor profundidad de campo y resolución. Ideal para la toma imagen avanzada en inspección industrial y en ciencias biológicas. 

Especificaciones Generales:

  • Se puede incorporar un sistema de análisis EDX.
  • Facilidad de utilización con interfaz táctil.
  • Óptica electrónica poderosa (aumentos reales hasta 60.000x) en 3 minutos.
  • 3 Voltajes de aceleración (5, 10 y 15 kV).
  • Trabajo en Alto y bajo Vacío.
  • Capacidad de incorporar análisis EDX.
JSM-7200F

Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo (FE-SEM) JSM-7200F altamente versátil y fácil de usar que ofrece un nuevo nivel de rendimiento superior al usuario Este SEM de alta resolución es ideal para imágenes y análisis de nanoestructuras, y para determinar la composición química de la muestra a través de espectroscopía de rayos X. Combinando grandes corrientes de haz con un tamaño de sonda pequeño a cualquier voltaje de aceleración, el JSM-7200F aumenta drásticamente la resolución analítica a la escala sub 100nm. Para el análisis de muestras no conductoras, el JSM-7200F / LV está disponible con presión variable.

Especificaciones Generales:

  • Imágen de ultra alta resolución: 1.0 nm
  • Excelentes prestaciones a baja tensión: 1,6 nm a 1kV
  • Múltiples detectores simultáneamente: SEI, BEI, EDS, WDS, EBSD, CL, etc.
  • Cañón Termal-Schottky integrado en la lente condensadora.
  • Máxima corriente de haz: 300 nA
  • Lente de control de ángulo de apertura que mantiene un spot size pequeño aún a altas corrientes.
  • Filtro R para imagen de electrones de un rango de energía seleccionado.
  • Desaceleración del haz antes de la muestra.

COASIN S.A.
Virrey del Pino 4071 - Ciudad Autónoma de Buenos Aires - Argentina
Tel. +54 11 4552-3185 - Fax: + 54 11 4555-3321