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Análisis Químico de Materiales »

Espectrómetros de Chispa por Emisión Óptica

ARL iSpark

La nueva plataforma de ARL combina la alta versatilidad de los detectores de estado sólido CCD con la inigualable precisión y sensibilidad de los fototubos tradicionales.

  • Novísimo stand de excitación que otorga gran comodidad de operación y facilidad de mantenimiento.
  • Optimiza a un mínimo el consumo de argón, mediante el  manejo inteligente del software OXSAS.
  • Análisis de N y O en aceros, O en cobre, inclusiones en aceros y aluminio.
  • Alta sensibilidad y precisión en el análisis de metales preciosos.
  • Una configuración para cada necesidad
  • ARL iSpark 8820: combinado CCD/PMT, preconfigurado para los distintos productores de metales: acero, cobre, aluminio, etc.)
  • ARL iSpark 8860: solamente PMT. Para necesidades especiales, como ser alta velocidad y/o alta sensibilidad en ultratrazas
  • ARL iSpark 8880: CCD/PMT configurable. Para aplicaciones multimatriciales complejas y de investigación.
  • Todo el poder del análisis de trazas y versatilidad de cobertura elemental.
Thermo Fisher Scientific (Aná¡lisis por Espectrometría)

Espectrómetros por Fluorescencia de Rayos X de la línea ARL

La División ARL de Thermo Fisher Scientific lidera el mercado de este tipo de tecnología desde la década de 1970.
La espectrometría por fluorescencia de rayos X (XRF) es el método más versátil y preciso de análisis elemental. Dependiendo de la configuración del instrumento de que se trate, se pueden analizar por XRF materiales sólidos metálicos o no metálicos, líquidos y barros, tanto inorgánicos como orgánicos.

Debido al profundo conocimiento que se ha adquirido sobre el fenómeno de Rayos X y a la velocidad inherente a la electrónica, es posible analizar todo tipo de muestras sin utilizar patrones de calibración. Así, es posible analizar desde virutas metálicas, polvos, pequeñas piezas de tamaño irregular, hasta minimuestras líquidas del tamaño de una gota. Todo ello sin utilizar patrones de calibración.

Existen dos tipos de espectrómetros XRF: Los Dispersivos en Energías (EDXRF) y los Dispersivos en Longitudes de Onda (WDXRF). Los instrumentos

EDXRF

Pueden analizar desde el elemento Flúor (9) hasta el Uranio (92) de la tabla periódica. Es un método de análisis muy rápido, ya que todo el espectro de rayos X es obtenido simultáneamente en el detector único para su procesamiento ulterior. Es un método muy utilizado en laboratorios donde se requiere procesar una cantidad de muestras muy alta. Por su estructura eminentemente compacta, existe un subconjunto de modelos de este tipo que son portátiles. Estos pequeños equipos se utilizan para caracterización de materiales, para prospección minera o para análisis de contaminación de suelos, directamente en campo. Estos equipos portátile pertenecena a la división Niton de Thermo Fisher Scientific.
Los instrumentos

WDXRF

Incluyen la gama más amplia de instrumentos de altas prestaciones en lo que atañe a resolución, precisión, sensibilidad y exactitud. Dependiendo del modelo, son capaces de analizar desde elementos tan livianos como el Berilio (3) o el Boro (4) hasta tan pesados como el uranio (92). Hay tres clases de instrumentos WDXRF: los secuenciales puros, los simultáneos puros y los híbridos, que suman las propiedades de los dos tipos anteriores. Los equipos secuenciales son los que proveen la mayor versatilidad de análisis, ya que pueden recorrer todo el espectro cambiando automáticamente las condiciones de análisis según las necesidades de la muestra. Los de tipo simultáneo permiten análisis de alta velocidad, aunque se ven restringidos a programas analíticos limitados. Son los que se utilizan en control de procesos industriales, como pueden ser las refinerías de metales o las elaboradoras de cemento.
Finalmente, existen los híbridos, que combinan versatilidad con velocidad, y hasta llegan a incluir canales de difracción, para poder analizar no solamente el contenido elemental, sino determinar las fases de cada elemento, vale decir, en qué forma química ese elemento se encuentra en la muestra.

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