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Doble EDS opuesto simultáneo. No mas áreas oscuras en los mapas EDX


Nuevo diseño de la cámara de muestras

JSM-iT300 La nueva generación In-Touch de microscopios

La reconocida robustez de JEOL incorpora un nuevo paradigma de diseño para dar lugar al JSM-iT300. Toda la experiencia de más de 60 años y el cuidado hasta el último detalle se unen a los últimos desarrollos tecnológicos para lograr un nuevo SEM lleno de innovaciones.

El exitoso sistema de motorización de platina incorporado en las gamas más altas está ahora disponible en un SEM de fuente termoiónica. Más velocidad, mayor precisión y la robustez de siempre permiten navegar sus muestras más eficientemente que nunca. Las indeseables sombras en los mapas de Rayos X ahora desaparecen gracias a la geometría de opuesta 180º que permiten la adquisición simultánea de dos detectores EDS con ángulo de ataque de 35º. Un nuevo diseño en el sistema de barrido permite ahora reducir notablemente la carga electrostática de muestras no conductivas. Si a esto se le suma el nuevo diseño del sistema de vacío que permite un rango de presión variable de más del doble que su antecesor, se obtiene una versatilidad sin precedentes para muestras como polímeros, óxidos, minerales y cerámicos.

Ahora todos pueden operar el SEM. La interfaz de usuario incorpora la exitosa tecnología In-Touch que proporciona una forma intuitiva y ágil de operar el SEM, sumamente útil para usuarios nóveles, que se suma a la tradicional operación mediante mouse o caja de perillas para los microscopistas avezados. La superposición de señales de diferentes detectores es ahora aún más flexible brindando la posibilidad de obtener siempre la imagen que usted está buscando.

Lo invitamos a conocer el nuevo JSM-iT300. Un nuevo diseño, la confiabilidad de siempre.

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